Hämeenlinna

Kaivokatu 16
13100 Hämeenlinna
Y-tunnus: 0499964-0

Puh. +358 3 615 370

Espoo

Sinimäentie 10 C
02630 Espoo

Oulu - Huollon toimipiste

Aapistie 7 B
90220 Oulu

Tilaukset, tuotetiedustelut sekä muut tiedustelut: info@immunodiagnostic.fi

Ota yhtettä Tekninen tuki ja huolto
Siirry sisältöön

Mikä ihmeen LIBS?

Leica DM6 M LIBS – Yhdistä valomikroskopia tarkkaan ja nopeaan materiaalianalytiikkaan

Edistynyttä materiaalianalytiikkaa, ei tarvetta näytteen esikäsittelyyn – säästä 90 % aikaa verrattuna perinteiseen SEM/EDS menetelmään!

Leican LIBS -laitteistossa yhdistetään Laser Induced Breakdown Spectroscopy -tekniikka tutkimusluokan automatisoituun Leica DM6 M valomikroskooppiin. Tämä yhdistelmä mahdollistaa erittäin nopean tutkimuskohteiden valinnan ja analyysin.

  • Valitse kiinnostuksen kohteesi mikroskoopilla sopivalla suurennoksella
  • Käynnistä LIBS-analytiikka, jossa laserpulssi muuttaa kohteen plasmaksi
  • Laitteisto analysoi spektristä saadun datan materiaaleista josta voidaan tunnistaa alkuaineet

 

Mikä ihmeen LIBS?

LIBS tarkoittaa vapaasti suomennettuna laseravusteista hajotusspektroskopiaa (Laser Induced Breakdown Spectroscopy, LIBS). LIBS -tekniikassa korkeaenerginen laserpulssi ohjataan haluttuun kohtaan näytteessä. Tällöin pieni osa näytteestä muuttuu plasmaksi, joka emittoi jäähtyessään aineelle ominaisin aallonpituuksin. Tästä spektristä voidaan sitten määrittää kyseisen kiinnostuksen kohteena olevan alueen ”kemiallinen sormenjälki” eli alkuainekoostumus.

Tätä samaa teknologiaa käytettiin jopa NASA:n Curiosity -mönkijässä Mars -planeetalla. LIBS tekniikan suurena etuna on näytteiden minimaalinen valmistelu analyysiä varten. ”Point & Shoot” menetelmä on varmatoiminen jopa avaruuden haastavissa olosuhteissa.

 

Helppoa ja nopeaa, ja jopa 90 % ajansäästö verrattuna perinteiseen SEM/EDS -menetelmään!

Käytettäessä laitteistoa puhtauden määrittelyyn teknisessä materiaaliteollisuudessa:

  • partikkelianalyysi ja tunnistus VDA19 standardin mukaisesti
  • luotettava partikkelien kemiallinen määritys, epäpuhtaudet voidaan jäljittää niiden lähteelle/lähteille

 

Tutustu lisää LIBS-laitteistoon

 

Jos haluat kuulla lisää, olethan meihin yhteydessä!

Otathan yhteyttä

Vesa Ylöstalo

Tuotepäällikkö, Mikroskoopit ja Kuvantaminen +358 40 543 2318 Ota yhteyttä

Toni Vormisto

Tuotepäällikkö, Stereo- ja materiaalimikroskoopit +358 50 463 8391 Ota yhteyttä